Was ist ein SEM-Mikroskop?

Ein sem-Mikroskop ist eine Art Mikroskop, das einen Lichtstrahl der Elektronen benutzt, die mit Detektoren kombiniert werden, um sehr kleine Bereiche anzusehen. Die Vorrichtung gekennzeichnet normalerweise als SEM, da die Buchstaben ein Akronym für den microscope’s korrekten Namen - Rasterelektronenmikroskop sind. Diese Art des Mikroskops ist extrem leistungsfähig und hat eine durchschnittliche nützliche Entschließung zwischen 7 Nanometer und 3 Nanometer, obwohl niedrigere Beschlüsse erzielt worden sind.

SEMs Arbeit durch die Deutung von Daten von den Detektoren, wenn ein Lichtstrahl der Elektronen an einem Exemplar verwiesen wird. Der Elektronenstrahl wird durch einen Heizfaden innerhalb der SEM’s Elektrongewehr erzeugt, dann reist hinunter die Spalte in Richtung zum Exemplar. Während in der Spalte, wird der Weg der Elektronen durch verschiedene Teile verschoben, kondensiert, blockiert und/oder geändert, um die Darstellung zu verbessern. Die Spalte öffnet sich in den Exemplarraum, in dem der Lichtstrahl der Elektronen das Exemplar schlägt. Elektronen, die durch das Exemplar freigegeben oder reflektiert werden, schlagen dann Detektoren, die im Exemplarraum sind. Die Resultate der Schläge werden dann verwendet, um in hohem Grade vergrößerte Bilder des Exemplars zu verursachen.

Die Elektronen gaben durch ein Exemplar in SEM können in vielen unterschiedlichen Arten ermittelt werden frei; die allgemeinsten drei sind jedoch durch Rückstreu-, Sekundär- und Röntgenstrahldarstellung. Rückstreuelektronen (BSE) neigen, in die Oberfläche eines Exemplars und in die Bilder tief einzudringen, die durch ihre Abfragung produziert werden, können Kontrast in den Materialien innerhalb der Substanz leicht zeigen. Sekundärelektronen werden benutzt, um Bilder von zu produzieren specimen’s auftauchen und können die Betäubung der 3-D Darstellungen ergeben. Röntgenstrahldetektoren können erklären, welche Elemente ein spezifisches Teil eines Exemplars bilden, und sind in der Kriminalistik häufig benutzt. Andere Abfragungsmethoden existieren auch und umfassen Cathodoluminescence- und Schneckenwellenabfragung.

Das “S† in SEM steht für Scannen, ein Aspekt, der die SEM von anderen Arten Elektronenmikroskope unterscheidet. Anstatt, einen örtlich festgelegten Lichtstrahl der Elektronen zu benutzen, benutzt die SEM einen Lichtstrahl, der über den gewünschten Bereich sich bewegt in, was als Rastermuster (Rastering) bekannt. Rastering liefert viel Nutzen und ist einer der Gründe, welche die Bilder, die aus dem Sekundärdetektor produziert werden, fast eine 3-D Qualität haben.

SEMs werden in vielen verschiedenen Bereichen der Forschung verwendet, aber sind vermutlich für die Rollen am berühmtesten, die sie in der gerichtlichen Wissenschaft spielen. Eine Methode für die Prüfung auf Schußrückstand bezieht mit ein, die Rückseite eines suspect’s Daumens, des gewebten Materials und des Triggerfingers aufzuwischen; der Putzlappen wird dann using Rückstreuabfragung analysiert, mit Interessengebieten überprüfend mit Röntgenstrahlabfragung, um festzustellen, was sie gebildet werden. Rückstreuabfragung kann auch verwendet werden, um den Oberflächenaufbau eines Gegenstandes zu überprüfen, und unregelmäßige Bereiche können using Röntgenstrahlabfragung geprüft werden, um nicht wünschenswerte Materialien wie Blei zu finden.